- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/44 - Microscopie à conductance ionique à balayage SICM [Scanning Ion-Conductance Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes SICM
Détention brevets de la classe G01Q 60/44
Brevets de cette classe: 20
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| The Regents of the University of California | 18943 |
6 |
| Imperial Innovations Limited | 636 |
3 |
| SensApex Oy | 16 |
2 |
| Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (epfl) | 1434 |
1 |
| The Florida International University Board of Trustees | 548 |
1 |
| Ionscope Ltd | 3 |
1 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 639 |
1 |
| OpenIOLabs Ltd | 4 |
1 |
| Tohoku University | 2526 |
1 |
| Westfalische Wilhelms-universitat Munster | 197 |
1 |
| Gtheranostics Co., Ltd. | 6 |
1 |
| Bio-Xcelerator, Inc. | 13 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |